CMI900（X射线镀层测厚仪)

CMI900（X射线镀层测厚仪）

应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的

情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚

度的测量。

技术参数

主要规格                           规格描述

X射线激发系统                   垂直上照式X射线光学系统

                                       空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

                                       标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

                                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

                                       75W(4-50kV，0-1.5mA)－可选

                                       装备有安全防射线光闸

                                       二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片

                                       任选

准直器程控交换系统            最多可同时装配6种规格的准直器

                                       多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055mm

(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm

(使用0.3mm准直器)

样品室

－样品室结构                      开槽式样品室

－最大样品台尺寸                610mm x 610mm

－XY轴程控移动范围            标准：152.4 x 177.8mm
                                        还有5种规格任选

－Z轴程控移动高度               43.18mm

－XYZ三轴控制方式              多种控制方式任选：XYZ三轴编程控制、XY轴手动控制和Z轴编程控制、

XYZ三轴手动控制

－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。

（50倍和100倍观察系统任选。）

激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
电脑系统配置 P4双核处理器/512M内存/160G硬盘/DVD-ROM/鼠标键盘/15寸液晶显示器

分析应用软件操作系统：WindowsXP(OEM)中文平台

分析软件包：                       SmartLink FP软件包

－测厚范围                          可测定厚度范围：取决于您的具体应用。

－基本分析功能                   采用基本参数法校正。我们将根据您的应用提供必要的校正用标准

                                        样品。

样品种类：                          镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

                                         可检测元素范围：Ti22 – U92

                                         可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

                                         贵金属检测，如Au karat评价

                                         材料和合金元素分析，

                                         材料鉴别和分类检测

                                         液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

                                         多达4个样品的光谱同时显示和比较

                                         元素光谱定性分析

－调整和校正功能                 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能                 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”

                                         多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复

                                         测量模式

                                         测量位置预览功能

                                         激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能                 设定测量点
                                         连续多点测量

                                         测量位置预览
－统计计算功能                    平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、

                                         数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
                                         数据分组、X-bar/R图表、直方图
                                         数据库存储功能
                                         任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
－系统安全监测功能              Z轴保护传感器
                                         样品室门开闭传感器
●精度高、稳定性好
●强大的数据统计、处理功能
●测量范围宽
●NIST认证的标准片
●全球服务及支持