台式小焦点X射线荧光光谱仪 SPECTRO MIDEX

台式小焦点X射线荧光光谱仪-SPECTRO MIDEX
开辟稀有金属分析方法的新天地

SPECTRO MIDEX™采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX™适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX™也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。

SPECTRO MIDEX　不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。

技术规格

仪器操作简便、直观。可在原位进行有效的“失效分析”。

独特性:

X射线管和检测器系统独特的几何设计使其能够分析以前无法触及的样品表面。如:环形样品的内表面。

激发源
● Mo靶的X光管
● 风冷
● 最大功率：30W
● 最高电压：50kV
● 测量点尺寸：0.7mm

样品室
● 长：520 mm(20.5 '')
● 宽：310mm(12'')
● 高:160 mm(6.3'')
● 样品放大成像系统
● 手动样品台或固定样品用多轴向夹具
● 符合严格的ξ3 R?V(德国X射线标准)辐射防护标准

计算机
● 台式Pentium™ 计算机
● Windows™操作系统
● 键盘和鼠标
● 显示器
● 打印机

软件
● 菜单式软件，光谱仪参数调整和数据评估及计算

检测器
● 电致冷（Peltier 冷却）的Si漂移半导体计数器
● 以Mn Kα线，在测量计数率为1000脉冲计数时,能量分辨率为:FWHM<150 eV
● 微处理器控制的检测器和读出电路

其它规格
● 电压:100 -127或，200-240V,50/60 Hz,2.6/1.0A
● 最大处尺寸:
长:540mm(21’’)
宽:420 mm(16.5’’)
高:560 mm(22’’)

底座尺寸:
长:540mm(21’’)
宽:360 mm(14’’)
重量:40kg (88 lbs.)