荧光X线膜厚计 COSMOS-2X

荧光X线膜厚计

产品特点

    COSMOS-2X 规格表
    1. X线源：油浸式由上而下垂直照射方式。
    2. 检出器：比例计数管。
    3. 滤波器：采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。
    4. 准直仪：采用五种孔径一体成型式，可自动切换使用。
    5. 样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。
    6. 多能谱分析器：256高频分析器，光谱自动分析。
    7. 测量项目：单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.
    8. 测量范围：原子序22 ~ 82 ，最小量测值0.05um.
    9. 测量机能：同一点重复测定机能，输出形式设定，能谱测定.
    10. 底材补正功能：当样品与标准片的底材不同时，可作底材补正。
    11. 本机俱有自动安全断电系统功能.
    12. 由锁匙开关来控制X 线输出，以防止外人任意操作.
    13. 测量部主机尺寸：362(W) ×425(D) ×521(H) ㎜.
    14. 测量台尺寸尺寸：170 (W) ×100 (D) ㎜
    15. 移动量(X-Y-Z轴)：70 ×70 ×80 ㎜.
    16. 使用电源：电压: AC100V/220V ±10V ； 50/60Hz

适用范围

适合行业：IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。