SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪
产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455
产品特点：
 ★  搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管）

      可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。

      能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
      
      对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量

     可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度

★  搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件

      对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域

★  适用超微小面积的测量

     标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。

★  搭载了可3段切换的变焦距光学系统

★  拥有防冲撞功能

★  搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）

★  搭载激光对焦系统

★  搭载测试报告自动生成软件

 产品介绍：
SFT9000系列里最高级的机型「SFT9400系列」搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导体检测器+比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。

         此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。

SFT9400系列产品规格
型号 SFT9400/SFT9450/SFT9455
仪器的特长 微小面积对应及高性能型
可测量元素 原子序号22(Ti)~ 83(Bi)
X射线源 小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)
管电压：50kV  管电流：1.5mA  Be窗
滤波器 一次滤波器：Mo-自动切换
二次滤波器：无
照射方式 上方垂直照射方式
检测器 半导体检测器+比例计数管(不需液氮的检测器)
仪器校正 自动校正+手动校正
准直器(标准配置) ○型(Φ0.015、Φ0.05、Φ0.1、Φ0.2mm)
安全性能 样品室门锁，样品防冲撞功能
样品图像对焦 有(激光对焦)
样品观察 CCD摄像头+倍率光学器+卤素灯照明
焦点切换功能 3段切换9400：10/40/70mm
              9450：10/25/40mm
X-ray Station 台式电脑
(OS; MS-Windows XP?)
打印 喷墨打印机
应用 单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍
软件 块体FP法软件、薄膜FP法软件
测量功能 自动测量、中心搜索、图像识别处理
修正功能 基材修正、已知样品修正、人工输入修正
统计处理功能 MS-EXCEL
报告制作功能 MS-WORD

联系人：刘先生
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