B级(间距：1.0mm) GDSKDT-1

四探针电阻率测试仪-红宝石探针头 B(间距：1.0mm) 型号：GDSKDT-1

货号：ZH426

产品简介
一、特点
1、使用几何尺寸十分的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。
2、控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，探针的小游移率。
3、采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。
4、量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。
二、用途
1、测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。
2、测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。
三、探针间距
1、直线四探针…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、方形四探针…………… 1.00mm
3、直线三探针…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、两探针    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、指标
1、游移率
                   B…………… ＜0.5%
                   A……………＜0.3%
                   AA………… ＜0.2%
                   AAA…………＜0.1%
2、间距偏差
                   B…………… ＜3%
                   A…………… ＜2%
                   AA………… ＜2%
                   AAA………… ＜1%
3、针与导孔间隙：0.006mm
4、探针材料：硬质合金（主成份：进口碳化钨）或高速钢
5、探针压力      标准压力：6—10N（4根针总压力）
                        小压力：1.2—5N（4根针总压力）
                        1牛顿（N）=101.97克
6、针尖压痕直径：25—100μｍ、100—250μｍ（簿层）
7、 500V绝缘电阻：＞1000MΩ

四探针电阻率测试仪-红宝石探针头 B(间距：1.0mm) 型号：GDSKDT-1

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