所有的设备遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497等国家和国际标准。 制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术，X射线仪器具有其独特的特点。

典型的应用范围如下：

单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。

双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

最多24种镀层（使用WinFTM^® V.6软件）。

分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。

分析电镀溶液中的金属离子浓度。