JK-II型露点和微水分采样系统
筛选
  • 地区
    全部
  • 会员级别
    全部
筛选
  • 截止时间
    全部
仪表展览网>产品库>露点采样系统
价格: 面议
产品型号:JK-II型露点和微水分采样系统
品牌:2437155
公司名称:上海杰控自动化
地:上海闸北
发布时间:2011-06-07
上海杰控自动化
产品简介
JK-II型露点和微水分采样系统,可以应用于测量压缩空气或者其它气体中的露点温度和微量水份。这个系统结构紧凑,易于使用的,具有通用特性,在应用中,它可以带显示和控制等诸多功能。
产品详情
JK-II型露点和微水分采样系统,可以应用于测量压缩空气或者其它气体中的露点温度和微量水份。这个系统结构紧凑,易于使用的,具有通用特性,在应用中,它可以带显示和控制等诸多功能。
JK-II型露点和微水分采样系统技术参数
传感元件薄膜氧化铝传感器
       程: -110+20
       度: -6540露点温度是±2
                     -80-66露点温度是±3
工作环境:  温度:-40+60 压力
:  -65~40℃露点温度是±0.5
                 -80~-66℃露点温度是±1.0
商铺其他产品
联系商家 立即询价
发布询价单