EE5101低频标签矢量分析仪

EE5101低频标签矢量分析仪：

EE5101低频标签矢量分析仪主要特点：

EE5101低频标签矢量分析仪是根据RFID低频标签和线圈的特点进行专业设计的检测仪器，配合阻抗矢量分析算法，可以分析线圈阻抗的矢量特性，还可以测试低频标签的谐振频率，配合计算机能够进行自动数据处理。

EE5101低频标签矢量分析仪采用了先进的DDS数字频率合成技术，全范围具有极高的频率分辨率，采用了ALC电平控制技术，保证了激励源的准确性和稳定性，矢量接收机采用了双路同步检测技术、数字信号处理技术和大规模可编程逻辑设计技术，可同时显示阻抗的幅频特性和相频特性，标记（MARKER）自动显示测试结果，还可以选配GPIB、RS232或USB等接口进行程控测试。

本仪器可广泛用于低频无源器件和双口网络特别是标签、天线、晶体、陶瓷器件和各种滤波器的谐振测试和阻抗测试，特别适合生产线应用。

EE5101低频标签矢量分析仪主要技术指标：

●主要性能指标

◆测试频段

130kHz频段、13.56MHz频段，可用频率范围：50kHz~20MHz

◆ 频率分辨率

1Hz

◆ 最大输出电平

+13dBm

◆ 系统阻抗：50Ω

◆ 显示：

5.6英寸彩色TFT液晶屏

◆ 频标

频标自动显示测试结果

●谐振频率测试

◆ 50kHz~20MHz

●阻抗测试：

◆阻抗范围：0Ω ~ 1kΩ

◆相位范围：±180º

● 选配件：

1．线圈阻抗测试夹具

2．标签谐振测试夹具

3．通信接口：RS232；GPIB或USB通信接口

4．辅助直流电源输出（DC）

5．辅助测试输入端口

6．参考输入端口、参考输出端口