仪器名称: X荧光光谱仪
型号:TX-300A
分析原理：能量色散 X 射线荧光分析法
分析元素：Na ～ U 任意元素
检出下限（Cd/Pd）：Cd/Pb/Hg/Br ≦ 2 ppm, Pb ≦5 ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶 / 金属 / 薄膜 / 粉末 / 液体

X荧光光谱仪
X 射线管：
靶材：Mo
管电压：5 ～50 kV
管电流：最大 1 ～ 1000 μA
照射直径：2 、 5 、 8mm 自动转换
探测器：Si（PIN） 半导体高分辨率探测器
滤光片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：30 倍彩色 CCD 摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）
软件：定量分析：α系数法 WINDOWS XP
数据处理：
主机：PC机
内存：256 MB 以上
硬盘：40 GB 以上
OS：Windows XP
工作环境：温度：10 ～ 35 ℃，湿度：30 ～70%R H
電源：AC 220 V ± 10 % 、50/60 Hz
功率：1.1kW
重量：40Kg
外形尺寸：550（W） × 450（D） × 450（H）mm
 

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