筛选
-
- 地区
- 全部
-
- 会员级别
- 全部
类型:半导体用气密检漏设备
检测方式:差压比较
检测精度:10-5~10-3 Pam3/sec(与测试压力和被测物内容积及外形尺寸有关)
外形尺寸:最大10×10×3mm
检测速度:4ch:2.5sec/个;6ch:1.5sec/个
概述:适用于晶振,SAW,SMD,小型继电器,集成电路,电容,密闭开关等密封产品的气密性检测,与原有的氟油和温水目视检漏不同,该设备通过检测被测物与基准物之间的差压来进行测漏,与原有方式相比具有检测成本低,无污染,精度高,检测数据便于管理等优点.
用途:适用于生产线批量产品的粗检漏.
空压源:500±100 kPa/cm2G,必须洁净、干燥、压力稳定
电源:单相AC 100V±10% 50/60Hz,三相 200V
广州科华自动化设备有限公司作为日本长野计器 (NAGANO KEIKI,NKS) 株式会社在中国地区的一级授权代理,负责日本长野计器产品在中国地区的业务销售、技术咨询及市场推广。欢迎致电我司咨询或浏览我司网站下载详细技术选型资料!
电话: 81876260 81873327
传真:
24小时技术咨询热线:(0)
Email:kehua@vip.163.com