X—Ray超高分辨率CCD相机
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仪表展览网>产品库>X—Ray CCD相机
价格: 面议
产品型号:CCD
公司名称:北京迅天宇光电科技有限公司
地:北京石景山
发布时间:2012-08-17
北京迅天宇光电科技有限公司
产品简介
我们开始为最终客户和OEM提供X—Ray超高分辨率CCD相机已经有3年的历史。一种高响应度的CCD相机。有着低噪声特性和最佳光子收集与最好的信噪比。尤其在低光条件,曝光模式下允许100%的占空比和高灵敏度的操作。
产品详情
                  X—Ray超高分辨率CCD相机

特性:                                             

         探测器输出时小像素尺寸<32微米                                             

         2x20MHz的复用扫描频率                                                                 

         大面积传感器                                                                               

         极低的暗电流<0.05e/pixel/s                                                         

         选通时间从几微秒到>30min                                                             

         空气制冷/水冷选项                                                                              

         同时集成/采集读出能达到100%占空比                                            

应用  

         
微衍射

         X光成像

         X光显微CT

         劳厄成像

         高达50keV的蛋白质晶体

         射线散射

         粉末衍射

 主要参数:

 

2200万像素

3200万像素

阵列规格

4008H)×5344VCCD阵列

9744H)×3248VCCD阵列

输入像素尺寸

31.18  x 31.18µm

25.63 ×25.63µm

输入尺寸

124.96 x 166.14mm(tiled array)

250 x 83.07mm(slot array)

fps

1.8FPS全分辨率@20 MHz

5FPS binning4 x 4@1002x1336

1.1FPS全分辨率@2x20MHz

3FPS binning4x4@2436x812

读出噪声

14-18 e@20MHz可插值降噪

12-16 e@2x20 MHz可插值降噪

满阱容量

45000 e@分级 2x2

25000 e@分级 1x1

50000 e@分级 2x2

输出字节

16-bit 动态扩展范围

16-bit 动态扩展范围

输出接口

USB2.0接口

USB2.0接口

同步/控制

TTL脉冲电平或像素时钟

 

Csl:实现30-100keV TI结构的闪烁基数器操作

5-55 keV的操作环境下10线/毫米的最小特征识别GdOS:Tb闪烁

通常为50微米的输入尺寸

暗电流

<0.05e/pixel/s

0.05e/pixel/s


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