TT211覆层膜厚仪

TT211覆层膜厚仪

TT211覆层膜厚仪功能特点：

=      采用磁性测厚法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度

=      英文菜单显示方式

=      单次测量方式

=      直接方式，新的测量值将替掉旧的测量值

=      只需做零点校准，使用简单

=      单位制式：英制、米制

TT211覆层膜厚仪技术参数

测头类型
 Ｆ
 
工作原理
 磁感应
 
测理范围
 ０～1250mm
 
低限分辨率
 10mm
 
示值误差
 零点校准（mm）
 ±(3%H+1.)
 
 

测试条件
 最小曲率半径（mm）
 凸1.5
 
最小面积直径（mm）
 Ø7
 
基体临界厚度（mm）
 0.5
 
 

使用环境
 温度
 0-400C
 
温度
 20%-90%
 
无强磁场环境
 
电源
 二节AAA型1.5V（7号）干电池
 
外型尺寸
 110*50*23（mm）
 
重量
 约100g
 

TT211覆层膜厚仪标准配置

=      TT211主机                                    1

=      基体                                               1

=      仪器包                                           1

=      AAA型1.5V(7号)干电池