X荧光射线膜厚与元素(RoHS)分析仪 XRF-2000 (R)系列
X射线金属镀层膜厚仪

H-Type
L-Type
PCB-Type

介绍：

X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。XRF-2000系列分为以下三种：

1. H-Type: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。

2. L-Type: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。

3. PCB-Type: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。

4. R-Type: 结合膜厚量测，元素成份及含量分析功能(RoHS分析仪)。

应用:

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92)。RoHS: Al(13)选配。

行业:

五金类、螺丝类、PCB类、 连接器端子类行业、电镀类、金饰相关行业等。

特色:

非破坏，非接触式检测分析，快速精准。

可测量高达六层的镀层(五层厚度+底材)并可同时分析多种元素。

兼容Microsoft 微软作业系统之测量软件，操作方便，直接可用Office软件编辑报告。