材料分析－FISCHERSCOPE^® GOLDLINE ASSAYX射线荧光光谱仪概述：

X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。
可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。FISCHERSCOPE^® X-Ray XAN^® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射线荧光光谱仪，它可以对未知材料进行简单，快速而精确的分析。分析范围从铝（Al)到铀（U），即使含量很小也可以测量。

这些独特的仪器之所以具有如此强大的性能，是因为它使用了带珀耳帖冷却的高光谱分辨率的半导体探测器和用于材料和多镀层分析的WinFTM^® V6软件。

如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，这些仪器系列也是FISCHERSCOPE^® GOLDLINE ASSAY的一部分－－珠宝和贵金属领域快速、无损和精确测量金含量的理想设备。
材料分析－FISCHERSCOPE^® GOLDLINE ASSAYX射线荧光光谱仪技术参数：

型号	FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®	XAN® 120	FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL	FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SD
测量方向	从下到上	从下到上	从上到下	从上到下
开槽测量室
Z轴	无	无	可编程	可编程
测试台类型	固定工作台	固定工作台	可编程XY工作台	可编程XY工作台
测试点放大倍数	34 －184倍	34 －184倍	20 －180倍	20 －180倍
Amount of primary filters	2		3	6
Digital pulse processor	optional			standard

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