镀层测厚仪（手提式）美国MATRIX X射线

美国MATRIX手提式 X射线镀层测厚仪

品牌美国MATRIX 型号 MATRIX
测量范围 0.001（mm）

美国MATRIX 手提式 X射线镀层测厚仪全球第一款手提式 X-射线镀层测厚仪这一款手提式测厚仪，在大型材料及各种形状配件镀层厚度的无损检测上有着明显的优势。唯一具备“批量测试 ”模式，即一次可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度可广泛应用于建筑材料，电子，镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。配置说明：微型银或钨X-射线管，5个准直器。检测器：半导体高分辩率的检测器。电源供应：包含两块可充电锂电池和充电器。操作温度：-10 ~50摄氏度 FP软件测试包：测镀层薄膜厚度及金属元素分析多年来，我们一直致力于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！