日本电测电阻式膜厚计 RST-231

日本电测电阻式膜厚计

特性：

1.绝缘物上的金属镀层（印刷基板上的铜箔、电镀等）都能在极短时间内（0.7秒）得到高精度的测量。
2.采用4探针探头（kelvin式），不受双面板和金属板之里层及内层影响，可得到高精度测量。
3.应用计算机操作画面大、明亮、清晰。
4.校正、测定、操作很简单，可选择2种测量范围，可测2~120um的金属镀层。
5.使用者姓名、批号可登录在频道内，共有40个频道可以登录且有利于做频道的管理。
6.每个频道的测量数据可以被储存下来，测量资料亦可以被其所设定之统计项目执行统计处理。
7.统计处理、柱状图、分布图、×-R管制图，随时可查阅。
8.可设定膜厚上下限管制，对异常值会提示告知。
9.探头的探针破损时，可以更换探针并以低价修理。