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Surfix 分体式统计型涂层测厚仪
Surfix 分体式统计型涂层测厚仪技术参数
测量原理 F性:电磁
N型:涡流
测量范围 0~1500μm
误差 ±(1μm +3%)
分辨率 0.1um或小于读数的千分之二
显示 四位数LCD显示,背景光
最小面积 5mm×5mm
最小曲率半径 凸面:3mm
凹面:50mm
最小基体厚度 F型:0.5mm
N型:50μm
校准 厂家校准、零校准、标准箔校准
数据统计 读数个数、平均值、标准偏差、最大值和最小值,最多10,000个
数据存储 最多80个读数;统计数据
报警 上下限可调,声音报警
数据接口 红外通讯
环境温度/表面温度 0~50℃/150℃
电源 两节5号电池,50小时寿命
仪器尺寸 140×62×30mm
探头尺寸 Φ14×83mm
重量 200g
保护级别 IP52(防灰尘、防滴水)
符合标准 DIN、ISO、ATSM、BS
Surfix 分体式统计型涂层测厚仪标准配置
主机、 探头、零板、标准箔、 电池、 便携软包、 操作手册
- 询价产品:涂层测厚仪 Surfix 分体式统计型
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