Surfix 分体式统计型涂层测厚仪


Surfix 分体式统计型涂层测厚仪技术参数

测量原理             F性：电磁
                    N型：涡流
测量范围             0～1500μm
误差                 ±(1μm +3%)
分辨率               0.1um或小于读数的千分之二
显示                 四位数LCD显示，背景光
最小面积             5mm×5mm
最小曲率半径         凸面：3mm
                     凹面：50mm
最小基体厚度         F型：0.5mm
                     N型：50μm

校准                 厂家校准、零校准、标准箔校准
数据统计             读数个数、平均值、标准偏差、最大值和最小值，最多10,000个
数据存储             最多80个读数；统计数据
报警                 上下限可调，声音报警
数据接口             红外通讯
环境温度/表面温度    0～50℃/150℃
电源                 两节5号电池，50小时寿命
仪器尺寸             140×62×30mm
探头尺寸             Φ14×83mm
重量                  200g
保护级别              IP52(防灰尘、防滴水)
符合标准              DIN、ISO、ATSM、BS

Surfix 分体式统计型涂层测厚仪标准配置
主机、 探头、零板、标准箔、 电池、 便携软包、 操作手册