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集成电路测试仪产品简介:掌上型数位IC测试仪器

1． 为测试数字 IC而设计
2． 可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44
3． 轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电
4． 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5． 平均测试时间：0.8秒

1． 为测试数字 IC而设计
2． 可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44
3． 轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电
4． 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5． 平均测试时间：0.8秒


规格集成电路测试仪

1． 显示：16×1字LCD
2． 测试元件接脚数：14到24PIN

集成电路测试仪选择配件： *SOP adaptor

支援元件

·74 Serial ·40 Serial ·45 Serial ·41 Serial ·44 Serial

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北京金三航科技发展有限公司
电话:
传真:-804
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地址:北京市海淀区苏州街18号长远天地大厦A2座711室