日本得乐测厚规 SM-112
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仪表展览网>产品库>测厚规 涂层膜厚仪
价格: 面议
产品型号:SM-112
公司名称:深圳市三恩时科技有限公司
地:上海闵行
发布时间:2014-12-12
深圳市三恩时科技有限公司
产品简介
日本得乐测厚规用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。测量范围:0-10mm最小读数:0.01mm测量深度:26mm
产品详情
SM-112测厚规的详细资料:

 

SM-112测厚规
日本得乐测厚规

品牌:TECLOCK(日本得乐)

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。

测量范围:0-10mm

最小读数:0.01mm

测量深度:26mm

 

产 品 介 绍 

订购编号:20705

 

原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

技术参数:

指式方式:指针式

测量范围:0-10mm

最小读数:0.01mm

测量深度:26mm

体积大小:(W*D*H)87*23*105mm

重量:150g

 

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