系列超声波测厚仪
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仪表展览网>产品库>涂层测厚仪
价格: 面议
公司名称:北京华海恒辉科技有限公司
地:北京海淀
发布时间:2012-03-30
北京华海恒辉科技有限公司
产品简介
德国 K.K 公司生产的 CL3&CL3 DL 精密测厚仪具有更高的精度,更多的功能:分辨率可达0.001mm,精密零件首选 配合不同的探头使用时,既能满足一般测厚要求,又能测量薄壁工件、塑料及陶瓷制品 背光采用场致发光显示,更加明亮清晰 用户自定义厚度上下极限,读数超出后仪器自动报警 德国K.K公司CL400精密测厚仪在此基础上另有附加功能
产品详情

技术参数:

操作原理
超声脉冲回波法
测量范围接触探头方式:2到381毫米(钢)
延迟探头方式:0.25到25毫米(钢)
塑料探头方式:从0.13毫米开始
材料声速254-15000米/秒
显示刷新率4Hz
显示4位数LCD带背光,数字高度12.7mm
分辨率
 
接触探头方式:0.01,0.1毫米
延迟探头方式:0.001,0.01毫米
塑料探头方式:0.001,0.01毫米
操作时间无背光情况下大于35小时
操作温度-10℃到50℃
自动关机不用后3.5分钟
数据存储
 

1200个读数,99组文件(CL3DL)
 

接口RS232C,SPC(CL3DL)
电源3节1.5V AA碱性电池
尺寸:165×72×41mm(H×W×D)
重量:包括电池400克

探头选择

探头名称
探头类型
接触直径
测量范围
标称频率
Alpha 2DFR
延迟
7.6mm
0.25到25mm
15MHz
Alpha 2A,mini DFR
延迟
4.8mm
0.25到5mm
20 MHz
CA211A
接触
19.1mm
2到381mm
5 MHz
CA215
接触
12.7mm
2到51mm
5 MHz
Alpha 2F
接触
9.7mm
2到254mm
10 MHz
Alpha DFR-P
塑料
7.6mm
0.13到3.8mm(塑料)
20 MHz
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