实验室主要常用仪器设备

ARTAX系列微区X射线荧光光谱仪

主要技术特点： 对材料的结构和组成进行非破坏性的微区多元素分析，分析元素范围11Na-92U，空间分辨率达到70微米。 第四代XFlash?SDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术， 不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于165eV at MnKa 100Kcps。优于145eV分辨率探测器可选。 灵活的设计，样品检验时可以不受空间、样品尺寸限制。X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台，防碰撞保护，可以自动完成点、线、面扫描功能。 配有各种靶材的低功率X射线光管、CCD相机、微聚焦多孔毛细管镜、XYZ样品台、激光定位系统。 微聚焦多孔毛细管镜与准直管相比强度提高1000倍以上。 根据应用要求不同，可提供多种配置。 应用：文物保护、文物修复、考古、艺术品、笔迹鉴定、书画、刑侦、材料研究、电子、汽车、航空航天等领域。