* 迅速测定ppm级的有害金属！
* 应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
* 应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料的绿色环保。

Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求，畅销全球的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
新产品EDX-720的新功能：

* 更高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置！
* 在所有机型上配备全新的测定?解析功能！追求更高的分析精度。

1.配置新型滤光片， Pb、Cd等RoHS限制五元素的灵敏度提高2倍以上。
2.配置高计数率电路，增加检测器的计数量。
3.增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。
4.增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而自动选择最适宜的工作曲线。

1.分析元素： 11Na-92U(EDX-720),可以准确检测ROHS指令以外其它元素.
2.样品型状： 最大300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性.
3. X射线滤镜： 5种自动交换,可以消除背景元素干扰,使仪器分析精度高于其它仪器.
4.能量分辨率: Si/Li检测器,145eV.
5.检测下限: Cd:1.7ppm;Pb:2ppm;Cr:2ppm;Br:2ppm;Hg:2ppm.满足ROHS指令和索尼STM-0083标准.
6.软件：定性分析－测定/解析软件。定量分析－工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法.