TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

符合以下标准：

• GB/T 4957-1985 涡流方法
• JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
• JB/T8393-1996磁性和涡流覆层厚度测量仪
• • 采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
  • 可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
  • 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
  • 具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新测量
  • 设有五个统计量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
  • 具有米、英制转换功能
  • 具有打印功能，可打印测量值、统计值
  • 具有欠压指示功能
  • 操作过程有蜂鸣声提示
  • 具有错误提示功能
  • 具有自动关机功能

• 涂层测厚仪技术参数

  • 测头类型：N
  • 测量原理：电涡流
  • 测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
  • 低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)
  • 探头连接方式：一体化
  • 示值误差：
    1. 一点校准(um)：±[3%H+1.5]
    2. 两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
  • 测量条件：
    1. 最小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
    2. 基体最小面积的直径(mm)：ф5
    3. 最小临界厚度(mm)：0.3
  • 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
  • 统计功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
  • 工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
  • 上下限设置：无
  • 存储能力：15个测量值
  • 打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
  • 关机方式：自动
  • 电源：二节3.6V镍镉电池
  • 外形尺寸：150×55.5×23mm
  • 重量：150g

  涂层测厚仪基本配置

  • 主机
  • 铝基体
  • 标准片一套|五片
  • 充电器
  • 使用说明书

  涂层测厚仪可选附件

  • TA230打印机