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CH－1－S薄膜测厚仪

价格： 面议

产品型号：CH－1－S

公司名称：深诺仪器（深圳）有限公司

所在地：广东深圳

发布时间：2012-10-16

联系人：杨光美

联系电话：0755-27747269 27700430

深诺仪器（深圳）有限公司

产品简介

CH－1－S薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

产品详情

CH－1－S薄膜测厚仪主要参数
1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
2. 上测头曲率半径：15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4. 测量精度：100vm以内＜1vm
             100-250vm＜2vm
             250vm＜3vm

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