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价格：
$288000.00
产品型号：X-RAY XUL
公司名称：苏州圣光仪器有限公司
所在地：江苏苏州
发布时间：2012-04-12
苏州圣光仪器有限公司
产品简介
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪，X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym
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菲希尔X射线测厚仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射线光谱仪，主要用于无损厚度测量和成分析。
菲希尔X射线测厚仪比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了
XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量
在连接器和电气元件上的测量
电镀液的溶液成分分析
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同的样品平台：
XUL： 固定平面平台
XUL XYm： 手动X/Y平台
高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。
外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。
通过强大而界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
XUL型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器，型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法令要求。
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM通用规范
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用途 |
能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析 |
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可测量元素范围 |
从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可多同时测量24种元素 |
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设计理念 |
台式仪器，测量门向上开启 |
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测量方向 |
由下往上 |
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM之X射线源
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X射线靶材 |
带铍窗口的钨靶射线管 |
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高压 |
三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV |
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孔径（准直器） |
圆形Ø 0.3mm ，（可选配置：矩形0.3 mm x 0.05 mm） |
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测量点大小 |
取决于测量距离和使用的准直器的大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，小的测量点面积约为Ø 0.51 mm。 |
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测量距离，如样品为腔体时 |
使用保护的DCM（测量距离补偿法）功能： 测量距离为0 ~ 20 mm时，为已校准范围； 测量距离为20 ~ 27.5 mm时，为非校准范围。 |
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM之X射线探测
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X射线接收器 |
比例接收器 |
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二次滤波器 |
可选：钴滤波器或镍滤波器 |
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM样品定位
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视频显微镜 |
高分辨率 CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置 十字线带有刻度尺和测量点指示装置 测量区域的LED照明亮度可调节 |
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放大倍数 |
38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x) |
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM样品台
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样品台 |
XUL |
XUL XYm |
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设计 |
固定样品平台 |
手动XY平台 |
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X/Y方向大可移动范围 |
- |
50 x 50 mm |
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样品放置可用区域 |
250 x 280mm |
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样品大重量 |
2kg |
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样品高度 |
240mm |
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菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM电气参数
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电压，频率 |
AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
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功率 |
大为 120 W (测量头重量，不包括计算机) |
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保护等级 |
IP40 |
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM仪器规格
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外部尺寸 |
宽x深x高[mm]：395 x 580 x 510 |
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重量 |
约45 kg |
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内部测量舱尺寸 |
宽x深x高[mm]：360 x 380 x 240 |
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM环境要求
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测量时温度 |
10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
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存储或运输时温度 |
0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
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空气相对湿度 |
≤ 95 %，无结露 |
菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM计算系统
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计算机 |
带扩展卡的Windows®个人计算机系统 |
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软件 |
标准配置：Fischer WinFTM® LIGHT |
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可选配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER |
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执行标准 |
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CE合格标准 |
EN 61010 |
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X射线标准 |
DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
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型式许可 |
型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器 |
fischer X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM订货号
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL |
603-029 |
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm |
603-131 |
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如有特殊要求，可与Fischer磋商，定制特殊的XUL型号。 |
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其他 相关仪器：铁素体测量仪，高斯计，张力仪，扭力测量仪，冲击试验机，扭转疲劳试验机，电子万能试验机，弹簧试验机，金属电导率仪，人造板试验机，车辆测试设备
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