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日本三和SANWA光功率计OPM572MD特点:带护套,可测量波长:610-640nm, 650-690nm; 760-830nm, 760-830nm for MD ;He-Ne、半导体激光,微型碟式(MD)用
日本三和SANWA光功率计OPM572MD采用杆式探头和微型碟式(MD)探头
日本三和SANWA光功率计OPM572MD不用电源和电池
日本三和SANWA光功率计OPM572MD可监视光波形
日本三和SANWA光功率计OPM572MD带IR光束目视确认探头(杆式探头)