日本TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计 SR-NIR西南地区成都西野优势供应

产品详细介绍

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR;

高精度测定超微弱近红外光

近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。拓普康公司在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR

特点：

●能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。

●高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。

●和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。

用途：

●观察各类FPD的近红外领域的输出

●观察Ne、Ar的光谱线输出。

●光学膜等的近红外透过特性评价。

●其他光源的近红外分光测量。

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR

规格：

光亮采集	电子冷却型线性阵列传感器
波长分散原理	衍射光栅
测定角	2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)
最小测定直径(mmφ)	2°: 10.0, 1°: 4.99 0.2°: 1.00 0.1°: 0.50 (mmφ)
测定距离	350mm - ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
测定波长范围	600 - 1030nm
光谱波宽	6 - 8nm (半波宽)
波长分解	1nm
测定模式	自动/手动(积分时间/频率) 、外部垂直同步信号输入
测定内容	分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1
亮度测定范围(*1)	2.0° : 0.5 - 3,000, 1.0° : 1 - 9,000 0.2° : 20 - 70,000, 0.1° : 100 - 300,000
重复精度(*2)	±2% 以下
偏光特性	分光辐射亮度 5％以下
校正基准	本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下
测定时间(*3)	约 1 - 31 秒
界面	RS-232C,USB2.0
电源	专用AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz
功率	约34W
使用条件	温度: 5 - 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
外形尺寸 (W×D×H)	150×406×239mm
质量	5.5kg