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型号:AODD-JS-II
抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容容量(Cx)它淘汰了QS高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度最快)等特点。体积小、重量轻是我厂的第二代抗干扰介质损耗测试仪。
技术指标
1、环境温度:0~40℃(液晶屏应避免长时日照)
2、相对湿度:30%~70%
3、供电电源:电压:220V±10%、频率:50±1Hz
4、外形尺寸:长×宽×高 500mm×300mm×400mm
5、重量:约18Kg
6、输出功率:0.6KVA
7、显示分辩率:3位、4位(内部全是6位)
8、测量范围及输出电压选择:
介质损耗(tgδ):±0.00~±999%
试品电容容量(Cx)和加载电压:
2.5KV档:≤300nF(300000pF) 3KV档:≤200nF(200000pF)
5KV档:≤76nF(76000pF) 7.5KV档:≤34nF(34000pF)
10KV档:≤20nF(20000pF)
9、基本测量误差:
介质损耗(tgδ):1%±7个字(加载电流20uA~500mA)
介质损耗(tgδ):2%±9个字(加载电流5uA~20uA)
电容容量(Cx):1.5%±1.5pF
仪器为升压与测量一体化结构,输出电压2.5KV—10KV五档可调,以适应各种需要,在测量时无需任何外部设备,接线与QS电桥相似,但比其方便。
- 询价产品:介质损耗测试仪 全自动抗干扰 AODD-JS-II
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