型号：AODD-JS-II

抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了QS高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间（在国内同类产品中速度最快）等特点。体积小、重量轻是我厂的第二代抗干扰介质损耗测试仪。

     技术指标

1、环境温度：0～40℃（液晶屏应避免长时日照）

2、相对湿度：30%～70% 

3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz

4、外形尺寸：长×宽×高   500mm×300mm×400mm

5、重量：约18Kg

6、输出功率：0.6KVA

7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）

8、测量范围及输出电压选择：

    介质损耗（tgδ）：±0.00～±999%

    试品电容容量（Cx）和加载电压：

     2.5KV档:≤300nF(300000pF)           3KV档:≤200nF(200000pF)

     5KV档:≤76nF(76000pF)                     7.5KV档:≤34nF(34000pF)

     10KV档:≤20nF(20000pF)

9、基本测量误差：

    介质损耗（tgδ）：1%±7个字(加载电流20uA～500mA)

    介质损耗（tgδ）：2%±9个字(加载电流5uA～20uA)

    电容容量(Cx)：1.5%±1.5pF

    仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV—10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备，接线与QS电桥相似，但比其方便。