X荧光光谱仪 X光管光谱检测仪  专业贵金属检测仪  镀层厚度检测测量仪

型号：AODJ-EDX600

仪器介绍

           EDX600贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器，以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

X荧光光谱仪 X光管光谱检测仪  专业贵金属检测仪  镀层厚度检测测量仪性能特点

专业贵金属检测、镀层厚度检测。

智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序。

X荧光光谱仪 X光管光谱检测仪  专业贵金属检测仪  镀层厚度检测测量仪技术指标

元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。

测量对象：固体、液体、粉末

分析检出限可达：1ppm。

分析含量一般为：1ppm到99.9％。

多次测量重复性可达：0.1％。

长期工作稳定性为：0.1％。

标准配置

单样品腔。

正比计数盒探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

应用领域

黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。