近红外分光辐射亮度计 SR-NIR

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR;

高精度测定超微弱近红外光

近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。拓普康公司在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR

特点：

●能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。

●高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。

●和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。

用途：

●观察各类FPD的近红外领域的输出

●观察Ne、Ar的光谱线输出。

●光学膜等的近红外透过特性评价。

●其他光源的近红外分光测量。

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR

规格：

光亮采集	电子冷却型线性阵列传感器
波长分散原理	衍射光栅
测定角	2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)
最小测定直径(mmφ)	2°: 10.0, 1°: 4.99 0.2°: 1.00 0.1°: 0.50 (mmφ)
测定距离	350mm - ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
测定波长范围	600 - 1030nm
光谱波宽	6 - 8nm (半波宽)
波长分解	1nm
测定模式	自动/手动(积分时间/频率) 、外部垂直同步信号输入
测定内容	分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1
亮度测定范围(*1)	2.0° : 0.5 - 3,000, 1.0° : 1 - 9,000 0.2° : 20 - 70,000, 0.1° : 100 - 300,000
重复精度(*2)	±2% 以下
偏光特性	分光辐射亮度 5％以下
校正基准	本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下
测定时间(*3)	约 1 - 31 秒
界面	RS-232C,USB2.0
电源	专用AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz
功率	约34W
使用条件	温度: 5 - 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
外形尺寸 (W×D×H)	150×406×239mm
质量	5.5kg

(*1) : 本产品不测定亮度。记录针对标准A光源的参考值
(*2) : 600～1030nm 针对本公司基准光源
(*3) : E和PC的通信时间除外

测定直径：

测定角	测定距离 (*1)
测定角	350mm	500mm	800mm	1000mm	2000mm
2°	10.0	15.1	25.4	32.2	66.4
1°	4.99	7.55	12.7	16.1	33.2
0.2°	1.00	1.51	2.54	3.22	6.64
0.1°	0.50	0.76	1.27	1.61	3.32

(*1) 从物镜金属件前端开始的距离

选配件：

●辅助镜：AL-6

●辅助镜：AL-11

●辅助镜：AL-12

●CCD 接口：IA-2

●导光束：FP-3P

●三脚架 5N：Tripod5N

●三脚架：Tripod-SR

●微动台：S-4