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JX14C图象处理大型工具显微镜
产品特点 :
采用光电数显技术,以精密光栅尺作为XY轴测量元件,测量长度数字显示,读数直观,检测方便;
采用数码图像技术,自动识别轮廓边界,减少人为误差,提高操作效率;
配有功能强大的影像软件,完成复杂的测量工作,数据能与CAD通讯;
主显微镜可左右偏摆,适用于螺旋状零件的测量;
透射、反射照明均采用LED发光管照明,发热量低,寿命长;
具有快速移动和微动装置,并可迅速切换;
带有顶针架、V型支架、光学定位器等多种附件,使用范围广。
产品用途 :
该仪器能精确测量各种工件的尺寸、角度、形状和位置,以及螺纹制件的各参数。适用于机器制造业、工具制造业、模具制造业、仪器仪表业、军事工业、航空航天及汽车制造业、电子行业、塑料与橡胶行业的计量室、检查站、高等院校和科研院所。仪器带有光学定位器、顶针架、无中心支架等多种附件,可对机械零件、量具、刀具、夹具、模具、电子元器件、电路板、冲压件、塑料及橡胶制品进行质量检验和控制。
其典型测量对象有:
测量各种成型零件如样板、样板车刀、样板铣刀、冲模和凸轮的形状;
测量螺纹塞规、丝杠和蜗杆等外螺纹的中径、大径、小径、螺距、牙型半角;
测量齿轮滚刀的导程、齿形和牙型角;
测量钻模或孔板上孔的位置度,键槽的对称度等形位误差。
技术参数 :
工作台
坐标测量行程(mm):X坐标:150 Y坐标:75
X、Y坐标测量分辨率:0.001mm
坐标准确度:(2+L/50)um,式中L为被测长度,单位:mm
圆工作台直径(mm):Φ190(玻璃) Φ280(金属)
圆工作台角度分划范围:0°~360°
圆工作台测角分划值:3′
显微镜立柱
倾斜范围:±12°
倾斜角度分划值:30′
光学定位器
最小探测孔径:Φ5mm
最大探测深度:15mm
测量力:0.1N
顶针架
夹持直径:Φ70mm
夹持长度:190mm
物镜:
物镜放大倍数 1× 3× 120×
总放大倍数 10× 10× 10×
物方工作距离 ≈82mm ≈70mm ≈49mm
图像放大倍率 40× 120× 200×
屏幕图像范围(mm) 屏幕图像范围(mm)
1/2″≈5.2×4.1 1/3″=4.1×3.1
1/2″≈1.7×1.4 1/3″=1.4×1.0
1/2″≈1.0×0.8 1/3″=0.8×0.6
仪器承受工件最大重量:20kg
仪器主机外形尺寸(mm):720×460×600
仪器重量:100kg
软件功能:
采集工具:
采集坐标点、线、圆、圆弧、两点计算间距及中点、两圆计算圆心、两直线计算夹角。
采点方式:
框选自动采点,拉框自动采集直线、圆、圆弧,人工瞄准采点,十线中心自动识别采点,十字线旋转采点。
构造功能:
两直线构造中线、两点构造直线、三点构造圆和圆弧等。
组合功能:
计算螺纹中经、半角、螺距,两点计算点间距和中点坐标,点和线计算点到直线距,两圆计算交点坐标,两直线计夹角等。
形位公差:
直线度、圆度、弧度、同轴度、对称度、平行度、螺纹参数。
坐标变换:
直角坐标系、极坐标系、坐标平移和摆正。
(产品照片仅供参考;本公司保留对产品进行改进提高的权利,届时恕不另行通知客户;本产品配置以装箱清单为准。)
相关参数 | |
型号: | JX14C图象处理大型工具显微镜 |
主要参数: | 坐标测量行程(mm) X向:150 Y向:75,X、Y坐标测量分辨率: 0.001mm,X、Y坐标示值准确度:2+L/50)μm 其中L—被测长度,单位为mm,测角目镜分度值: 1′,圆工作台角度分度值:3′,圆工作台直径(mm)φ190(玻璃)、φ280(金属),显微镜立柱倾斜范围: ±12°,顶针架夹持最大直径和长度:φ70mm 长190mm,光学测量时:光学定位器最小探测孔径 φ5mm,光学定位器最大探测深度:15mm,仪器主机外形尺寸(mm) 长×宽×高=720×460×600,仪器总重: 100kg. |
- 询价产品:JX14C图象处理大型工具显微镜 JX14C
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