分立器件测试系统 DTS-1000

DTS-1000测试系统通过与分选机、探针台等设备的连接，可实现半导体器件的高速测试、分选，该系统可测器件包括二极管（Diode）、稳压管二极管（Zener）、晶体管（Transistor）、场效应管（Mos-Fet）。通过增加功能选件，可测试可控硅（Scr）、稳压管（3 Terminal Regulator、Shunt Regulator）、放电管（Tvs）等等。
（*后为器件测试数据）

机器参数：

电压/电流 : 999V / 20.0A
通道 : *大2通道
测试器件 : 三极管、二极管、齐纳二极管、MOS-FET、接口型FET等.
电源电压 : AC 200-240V;50Hz/60Hz
消耗电力 : 250VA

外形尺寸 : DTS-1000:500（宽）X670（深）X250（高度）mm
接口箱 : 65（宽）X272（深）X187（高度）mm
测试主机规格
偏置（Forcing）
Bias数/项 : 标准3个（3位）（D/A Converter)

偏置（Bias）回路 : 标准规格
High Voltage Generator （±999V/50ma）1回路
Voltage & Current Generator 3回路
Voltage Generator （36V/9.99A）
Current Generator （36V/9.99A）
测量（Detection）
测量数/项 : 1个（4位）（A/D converter）
测量回路:标准规格
High Voltage Detector （0.000V～999.9V）1回路
Low Voltage Detector (00.00mV～36.00V) 1回路
Current Generator (0.000mA～20.0A) 1回路
Low Current Generator (000.0PA～999.9uA) 1回路
测试回路用Item Name管理(VCESAT、HFE、etc)

高压Mosfet、低压MOSFET，三极管参数测试结果：