TCI- XM 经济型清洁度测试系统

对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸，通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小，与XA型的清洁度检测系统的差别在XM型是手动型，所以一般可以适用于清洁度要求不是非常高的情况，如检测*大颗粒，或者颗粒较大而且数量不多。

 特点：
 光学系统仿Nikon设计，防尘,防油、防水、防霉污染，减少常规维护。视场范围大，景深长     

清洁度颗粒指标是*大颗粒要求，*大颗粒要求*好≥200μm。
 
计算机监视器上直接观察、测量颗粒。能同时将金属颗粒的反光区和阴影区合并测量。
 
动态测量，无需定格拍照，颗粒轮廓动态显示。
 
并可将数据传送到Excel。

任意排版的图文混编的报告输出

适用：

 清洁度颗粒指标是*大颗粒要求，*大颗粒要求*好≥200μm。