WY2855介电常数和介质损耗测试仪（Q表法）

WY2855介电常数和介质损耗测试仪中，测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

1 特点：
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz（WY2852D）, 50kHz～160MHz（WY2853D）测试信号。独立信号源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2 主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

2.2 Q表

型号	WY2851D	WY2852D	WY2853D
工作频率范围	50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器	1kHz～70MHz 四位数显，数字合成精度：±50ppm	50kHz～160MHz 四位数显，数字合成精度：±50ppm
Q值测量范围	1～1000 三位数显，±1Q分辨率	1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率	1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率
可调电容范围	40～500 pF ΔC±3pF	40～500 pF ΔC±3pF	13～230 pF
电容测量误差	±1%±1pF	±1%±1pF	±1%±0.5pF
Q表残余电感值	约20nH	约20nH	约8nH

2.3 介质损耗装置：

2.3.1 平板电容器极片尺寸：
      WY916D:Φ38mm和Φ50mm二种.
      WY915:Φ38mm .
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：
      0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性：
      0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围：
      ±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：
      25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:
      ≤2.5×10-4

2.4 电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。

2.5 高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。