VLSI 测试系统 Model 3360-D

主要特色：

50 MHz 测试频率
32/64 个 I/O 通道
8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体
弹性化硬体结构
平行测试 : 最多 8 DUTs
Real Parallel Trim/Match 功能
时序频率测试单位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
测试程式/pattern 转换器 (V7, V50, SC312, J750)
Analog PE card 选配 (16 bits)
SCAN 测试选配 (512M)
ALPG 测试选配供记忆体用
STDF 工具支援 (选配)
人性化 Windows XP 操作环境
CRAFT C/C++ 程式语言
即时pattern编辑器，含Fail pin/address显示
多样化的测试解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.

The Full Application Functions – Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match⋯etc

3360-D Bridge Test Development to Mass-Production