Agilent ZIF 飞线探头旨在提供可靠信号、轻松实现探测接入，它具有以下特性：

• 极低电容负载，可进行深入分析且不会影响被监测的信号
• 轻松连接和断开焊针（ZIF 探针）以保护探头并确保重复利用
• 更长的探头引线，更方便地接入系统的探测点
• 长焊针或短焊针（ZIF 探针），便于接入不同的探测点

在 PCIe 2.0® 的速度上，可靠的探测变得更加重要。没有可靠的探测解决方案和大小合适的探头，要想捕获可靠的数据几乎是不可能的。

新型安捷伦 ZIF 飞线探头与示波器结合使用，通过同一个 ZIF 探针焊点可进行物理层测量；与协议分析仪结合使用可调试逻辑层故障。

安捷伦可为 PCIe 2.0 提供业内独一无二的探头系列，包括全尺寸中间总线探头（有直接、混合、分离各种类型）、半尺寸中间总线探头、插槽内插式探头、飞线探头以及如今的 ZIF 飞线探头。

用于 Agilent E2960B 的 PCI Express 探头―― 手册

PCI Express 和 PCIe 是 PCI-SIG 的注册商标.