85072A 圆柱体谐振腔体主要特性与技术指标
85072A 圆柱体谐振腔体特性
- 测量薄膜、裸基底和低耗损薄膜的复杂介电常数和损耗正切值
- 符合 IPC TM-650 2.5.5.13 测试方法标准
- 与安捷伦谐振腔体软件连用
- 创新设计稳定易用
85072A 圆柱体谐振腔体电气特性
- 密封空圆柱体的 TEO11 谐振模式:频率 = 10.03 ± 0.03 GHz
- 密封空圆柱体的 TEO11 谐振模式:Q 因数 = ≥ 20,000(在 -50dB 时输入耦合)
85072A 圆柱体谐振腔体典型不确定性
- TE011 模式:介电常数的真实部分: ±1%
- TE011 模式:损耗正切值: ±0.0001
- 可用的高阶 TE0np 模式:介电常数的实部: ±1 – 2%
- 可用的高阶 TE0np 模式:损耗正切值: ±0.0005
85072A 圆柱体谐振腔体采样要求
- 非磁性(µr* = 1-j0)、均质和非各向异性,具有均匀厚度和平坦平行边
- 厚度0.1mm 至 5mm,典型值 1mm
- 最小长度或直径为 56 mm,典型值 >60 mm
- 1mm 厚度采样的建议值为:介电常数的实部 <100,损耗正切值 <0.01
85072A 圆柱体谐振腔体描述
Agilent 85072A 10 GHz 分裂圆柱体谐振腔体按照 IPC TM-650 2.5.5.13 测试方法,测量薄膜、裸基底和低损耗薄膜材料的介电常数和损耗正切值。稳定、易用的设计,精密的柱状特性使它能够保证高 Q 因数和高损耗正切分辨率。85072A 与 Agilent 85071E-300 材料测量软件兼容,您可以单独购买,也可作为完整解决方案的一部分来购买。
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