- 最快2ms(模拟测量1ms)的高速测量 - 具有最快2ms(FAST时)的高速测量,可应对taping machine等的高速检查。测量速度可进行FAST/NORMAL/SLOW三档选择。
- 提高了重复测量精度 - 最低C量程为220 pF(1MHz时),与以往产品相比,微小容量测量的重复精度得到了提高。
- 充实了接触检测功能 - 利用振动检测功能等,可检测测量期间的接触出错。出现接触出错的测量对象并非不良,通过ERR(出错)判定,有助于提高成品率。
- 比较器功能 - 可分别设定第1参数(C)与第2参数(D)的上、下限值。判定结果可利用蜂鸣器鸣响与LED显示进行通告,也可以进行外部输出,设定值可一直显示。
- 只需要选择的简单操作与LED显示 - 是指从面板显示所标记的项目中只需要进行选择的简易操作。设定的测量条件通过点亮LED进行显示,一目了然,便于把握设定条件。
- BIN分选功能 - C测量可根据测量值划分为最多13类,因此易于进行分选。
- 触发器同步输出功能 - 施加触发后,输出测量信号,仅在测量时向被测元件施加信号。由于接触被测元件时没有大电流,因此减轻了接点的磨损。
- 可保存70组测量条件 -可保存最多70组测量条件,可迅速应对重复测量较多的生产线的被测元件切换。可利用EXT I/O读取任意测量条件。
- 打印机输出 - 通过RS-232C接口,可从选购件—9442打印机打印出测量值、比较器结果及BIN分选测量结果。这便于检查结果的数据附加。
- EXT I/O?RS-232C,GP-IB标准配备 - 触发、测量条件的负载可从外部进行控制。另外,可进行比较器结果、BIN分选测量结果以及测量结束等的外部输出,完善了与自动设备之间的接口。
- 符合JIS标准 - 针对电解电容器以外的电容器,以较低的价格实现了基于JIS C 5101-1的,频率为1kHz、1MHz的C-D(tanδ)测量。
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