磁场测试仪 FT3470-50

日置最新发售FT3470-50磁场测试仪，适用于测量电力设备和家用电器放射出的磁场强度等领域。

日置的磁场测试仪自2006年4月推广以来，已经赢得了一大批忠实的客户。在2010年国际非电离辐射防护委员会宣布的磁场测量准则后，在原有产品的基础上研发了FT3470-50磁场测试仪，以应对最新国际标准的变化。

FT3470-50磁场测试仪的特点是符合2010年国际非电离辐射防护委员会的准则,测量出具体的暴露等级。用户可以根据自己的需要选择两个规格的传感器。简单的操作确保了即使是第一次使用的人也可以自主操作，此仪器可用于测试不同规格，并且能够显示多级机组(T，A / M和G)。

磁场现场测量

近年来，专家们呼吁关注电气设备和家用电器产生的磁场对健康的潜在影响，要求按照国际非电离辐射防护委员会和国际电工委员会草拟的标准测量磁场。国际非电离辐射防护委员会推出的最新标准，为避免对人体健康产生不良影响的角度来看，提供以下最大磁场强度参考值：

国际非电离辐射防护委员会2010年参考值

	2010 年修订版	1998 年版本
电源频率(50/60 Hz)	200 mT (microteslas)	50 Hz: 100 mT60 Hz: 88.3 mT
中频(感应加热元件等)	27 mT	6.25 mT

日置最早于2006年4月推出3470磁场测试仪，在2010年宣布推出的FT3470-50磁场测试仪符合国际非电离辐射防护委员会2010年新标准。

高级性能

暴露等级测量与2010年国际非电离辐射防护委员会规则一致。
日置磁场测试仪测量暴露等级，是以百分比表示的，符合国际非电离辐射防护委员会参考值的仪器。FT3470-50串联探测仪符合2010年国际非电离辐射防护委员会更新的数据。

例如：如果根据测量物体发出了20μT磁场，(电源频率磁场)，那暴露等级则为10%，而2010年的最新参考值为200μT。
不同型号传感器的不同应用
日置提供了两个不同型号的磁场传感器。如下所述，客户可以选择最适合自己手头运用的型号：

100 cm²的磁场传感器: 标准传感器使用的IEC / EN62233标准;标准船舶是FT3470-51 和FT3470-52标准。
3 cm²的磁场传感器: 传感器能够精确的分析测量目标的磁场分布;船舶是FT3470-52和 FT3470-55标准。

日置的三轴传感器具有X，Y，Z轴标签，它更加方便确定目标磁场的方向。
测量使用多级机组FT3470-50串联，可以测量以下三个单位。根据不同的标准和规则，允许用于磁场测量方案。
- T(特斯拉)：磁通量的转换单位
- A/m(每米的安匝)磁场强度的转换单位
- G(高斯)：磁通量密度单位

组要规格

产品分档

磁通密度	10 Hz ~ 400 kHz / 10 Hz ~ 2 kHz / 2 kHz ~ 400 kHz(波段)
暴露等级	一般/专业
显示轴线	X/Y/Z单轴，复合真有效值R(整体轴：X/Y/Z)
测量方法	真有效值
功能	磁通量单元转换(T, A/m, G),减缓作用，峰值保持，记忆函数(最大值99个点)，设定值备份，电池检查
接口	USB 1.1
尺寸	100 (宽) ´ 150 (高) ´ 42 (厚) (mm)
重量	870 g (仅仪器)
参照标准	安规: EN 61010 (污染程度 2) EMC: EN 61326, EN 61000-3-2, EN 61000-3-3
参考标准	JIS C1910:2004

磁通量详细说明(用100 cm²个磁场传感器)

测量轴	范围	测量方式	有效测量范围	精确度
X, Y, Z	r0	10 Hz ~ 400 kHz 10 Hz ~ 2 kHz 2 kHz ~ 400 kHz	0.050 ~ 2.000 μT	±3.5% rdg. ±0.5% f.s. (in 10 Hz ~ 400 kHz 方式, from 50 Hz ~ 100 Hz)
	r1		0.50 ~ 20.00 μT
	r2		5.0 ~ 200.0 μT
	r3		0.050 ~ 2.000 mT
R	r0	10 Hz ~ 400 kHz 10 Hz ~ 2 kHz 2 kHz ~ 400 kHz	0.100 ~ 3.464 μT	±3.5% rdg. ±0.5% f.s. (in 10 Hz ~ 400 kHz 方式, from 50 Hz ~ 100 kHz)
	r1		1.00 ~ 34.64 μT
	r2		10.0 ~ 346.4 μT
	r3		0.100 ~ 3.464 mT

暴露等级(一般，专业详细规格)

测量轴	范围	有效测量范围	精确度
X, Y, Z	r0	0.50% ~ 20.00%	±3.5% rdg. ±0.5% f.s. for 50 Hz ~ 1 kHz 平滑边缘 ±5.0% rdg. ±0.5% f.s. for 1 kHz ~ 100 kHz 平滑边缘
X, Y, Z	r1	5.0% ~ 200.0%
R	r0	1.00% ~ 34.64%
R	r1	10.0% ~ 346.4%

被定义为“平滑边缘”暴露等级探测技术，适用于时域评估的IEC / EN62233中描述2010年的ICNIRP发布的磁通密度。这个水平可能会有所不同，从2010年的ICNIRP角频率高达3分贝。