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Agilent 4263B LCR测试仪 | ||
产品简介: | ||
l 基本精度为0.1% l 测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz l 量程为20mV~1Vrms,以5mVrms分档 l 具有测试信号电平监视功能 l 高速测量:25ms l 高速接触检查 l 大的电容测试量程 l 变压器参数测量(供选用) | ||
技术参数 | ||
测量功能 |
| |
测量参数 |
|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR | |
选件001 |
增加DCR(直流电阻),N(匝数比)和M(互感)测量 | |
测量电路形式 |
串联和并联 | |
数学功能 |
偏差和百分偏差 | |
测试电缆长度 |
| |
测试信号数据 |
| |
测试频率 |
100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz | |
选件002 |
增加20kHz测试频率 | |
频率精度 |
±0.01%(频率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) | |
输出阻抗 |
100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程) | |
交流测试信号电平 |
20mV~1Vrms,以5mVrms分档 | |
精度 |
±(10%+10mV) | |
内部直流偏置 |
| |
电平 |
1.5和2V;精度:±(5%+2mV) | |
外部直流偏置 |
0~+2.5V | |
测量范围 |
参数 |
测量范围 |
|Z|,R,X |
1mΩ-100MΩ | |
|Y|,G,B |
10nS-1000S | |
C |
1pF | |
L |
10nH-100kH | |
D |
0.0001-9.9999 | |
Q |
0.1-9999.9 | |
θ |
-180°~+180° | |
DCR |
1mΩ-100MΩ | |
N |
0.9-200(待定) | |
L,M |
1μH-100H(待定) | |
Δ% |
-999.99%-+999.99% | |
测量精度: |
±0.1%(基本精度)(适用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) | |
测量时间 |
| |
模式 |
时间(典型值) | |
短 |
25ms | |
中等 |
65ms | |
长 |
500ms | |
测试信号电平监视器: |
电压和电流 | |
前端保护: |
当充电电容器连接到输入端时内部电路便函起保护作用。最大电容器电压为;在 | |
显示数字: |
3,4或5位(可选择) | |
修正功能: |
| |
开路/短路误差为0: |
消除由测量夹具中杂散寄生阻抗引起的测量误差 | |
负载: |
利用一个已校器件作为参考来改善测量的精度 | |
比较功能: |
对每个一次测量参数和二次测量参数给出高/符合/低(HEGH/IN/LOW)比较结果 | |
接触检查功能: |
可以检测测试夹具与器件之间的接触故障。接触检查的附加时间为5ms | |
其它功能 |
| |
存储/调用: |
可以存储和从内部非易失存储器调用10个仪器设置 | |
连续存储功能: |
若仪器补关断或出现电源故障。仪器设置(直流偏置接通/切断除外)将自动被存储起来(在23°± | |
GPIB接口 |
所有控制设置,被测值和比较器信息 | |
处理器接口 |
所有输出信号均为负逻辑,光隔离的开路集电极。输出信号包括HIGH/IN/LOW,不接触,序号,测量结束和报警。输入信号包括键锁定和外触发 | |
一般技术指标: | ||
电源要求 |
90-132V或198-264V,47-66Hz,45VAmax | |
工作温度 |
0 | |
尺寸 |
| |
重量: |
| |
订货信息 | ||
4263B LCR测试仪 |
- 询价产品:Agilent 4263B LCR测试仪
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