牛津X-Strata960射线测厚仪

技术参数

主要特点

·100瓦X射线管、比传统射线管提高30％测定精度，减少50％测量时间
·多种可选规格准直器、可测定电子器件上的更小部件
·CCD摄像系统，可方便观察样品表面情况
·距离独立测量（DIM）－更灵活地测量特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）
·自动雷射聚焦－自动寻找测量点的聚焦距离，提高系统测量再现性
·全新大型的测厚仪样品室（580x510x230mm）－开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
·多种样品台可选－固定样品台、XY轴手动样品台、XY轴程控样品台。
·测厚仪内置PC用户界面

仪表介绍

X-Strata960测厚仪基于牛津仪器25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计；应用于电镀、涂镀、合金、薄膜和电镀液中Ti22-U92间元素的厚度和组成信息的同时测定分析，涵盖电子企业、连接器/焊接/框架/芯片、印刷电路板、汽配、紧固件、装饰件、工业产品的防腐、造船和航空业等领域。

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