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日本日置(HIOKI)高速电容测试仪 3506
特点:
测试仪 3505/ 3506
HIOKI 3505高速电容测试仪对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
日本日置HIOKI 3505高速电容测试仪输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
日本日置HIOKI 3505高速电容测试仪基本参数
测量参数 | C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
测量范围 | C:0.00000pF ~ 15.0000mF |
基本确度 | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
测量频率 | 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz |
测量信号电平 | 500mV, 1V rms |
输出电阻 | 1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外) |
显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 | 代表值: 2.0 ms ( FAST) |
机能 | BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS |
电源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA |
体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, |
附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 |