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产品型号:CH-1-S型
公司名称:上海玺欣精密仪器有限公司
所在地:上海杨浦
发布时间:2015-05-04
联系人:奚鑫
产品简介
CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
产品详情
CH-1-S型薄膜测厚仪
一、 概述
CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、主要参数
1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm
2. 上测头曲率半径:15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N
4. 测量精度:100vm以内<1vm
100-250vm<2vm
250vm<3vm