二次元测量仪 XKVMS-2010

二次元测量仪产品特点：

1。产品结构之稳定性和刚性，底座、,立柱,、X、Y轴均采用“济南青” 纯天然花岗石（化学性能稳定，不易风化，能耐酸、碱及腐蚀气体的侵蚀，永不变形、永不生锈）；
2。三轴摩擦精度传动，灵敏可靠，无背隙，并能快速移动；
3。高品质光学系统及高分辨率CCD，能确保清晰的测量画面；
4。可调LED环形表面光源，实现大角度照明，避免工件受热变形；
5。由精密光学尺与数据处理器组成数字元测量及数据处理系统；
6。可选配Reishaw或TESA接触式探针实现三维尺寸测量。

产品参数：

产品型号	XKVMS-2010手动型
X/Y/Z轴行程(mm)	200×100×150
大理石平台尺寸(mm)	366×266
玻璃台尺寸(mm)	260×160
外形尺寸(W×L×Hmm)	650×530×930
产品结构材料	底座,立柱,移动工作台均采用高精度花岗石
照明系统	表面光源与透射光源均用LED，亮度可调
CCD摄像机	标准型vms系列采用1/3″彩色CCD（可选配采用美国TEO高清晰彩色CCD）
放大倍率	Step Zoom光学放大率：0.7--4.5X，影像放大率：30--225X
X,Y轴测量精度	（3+L/200）um
光学尺解析度	0.001mm
重复性	0.002mm
操作方式	手动
电源	220V(AC) / 50HZ
推荐环境温湿度	温度：19°--24°，湿度：45%--75%
保修期	一年
选购件	组装电脑、品牌电脑、仪器桌