配置
开放式样品腔
二维移动样品平台
探测器和X光管上下移动可实现三维移动
双激光定位装置
准直器自动切换装置
玻璃屏蔽罩
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
计算机及喷墨打印机
样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm
外型尺寸：648mm×490mm×544mm

2、技术指标：

  2．1   ● 工作温度：15-30℃            ● 电    源：AC :220V ±5V 

2．2  元素分析范围从钾K到铀U

2．3  一次可同时分析多层镀层

2．4  分析厚度检测出限最高达0.01um ，多次测量重复性最高可达0.01um

2．5  长期工作稳定性小于0.1um ( 5um左右单镀层样品 )

2．6  测量时间：60-300秒

3、仪器硬件部分主要配置：

3．1   正比计数盒探测器

3．2   ● X 光管    ●高、低压电源   ●  MCA多道分析器

3．3   ●开放式样品腔●二维移动样品平台●探测器和x光管上下移动可实现三维移动

3．4   ●双激光定位装置●准直器自动切换装置●玻璃屏蔽罩●信号检测电子电路

3．5  计算机及喷墨式打印机

4、仪器软件配置：

4.1、测厚分析软件（配送）

功能介绍：检测、分析镀层的厚度和成分, 可分析单镀层、多镀层以及合金镀层, 具有多种镀层的分析方法, 可做同时显示英制和公制单位

4.2、全元素分析软件（可选购）