MSP100 分光光度计即薄膜测厚分析系统
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仪表展览网>产品库>薄膜测厚仪
价格: 面议
产品型号:MSP100
公司名称:北京燕京电子有限公司
地:北京朝阳
发布时间:2009-09-21
北京燕京电子有限公司
产品简介
•容易操作的软件与窗口 •先进深紫外光学和坚固耐用的设计最高正常运行时间和最佳的系统性能 •探测器阵列为基础的制度,以确保快速测量 •负担得起的,便携式和小型台面设计 •测量薄膜厚度和折射率高达5微米大小的地区多层次 •允许收购反射,传输和以毫秒为单位的吸收光谱 •能力将用于实时光谱,厚度,折射率监测 •系统配备了光学常数的综合数据库和图书馆 •先进的软件允许用户使用每个电影或者
产品详情

波长范围: 250到1000纳米
波长分辨率: 1nm
光斑大小:100μm ( 4倍) , 40μm ( 10倍) ,
30μm ( 15x ) , 8μm ( 50x )
基板尺寸:高达20毫米厚
可测量厚度范围: 2nm至25微米
测量时间:最低2毫秒
精度:优于0.5 %
重复性 : <2 Ǻ

System Configuration:
· Model: MSP100RTM

· Detector: CCD Array with 2048 pixels

· Light Source: High power DUV-Visible

· Automatic Stage: Black Anodized Aluminum Alloy with 5”x3” net travel distance and 1µm resolution, program controlled

· Motorized Z focus drive and X-Y-Z joystick

· Long Working Distance Objectives: 4x, 10x, 15x(DUV), 50x

· Communication: USB

· Measurement Type: Reflection/Transmission spectra, Film thickness/refractive index and feature dimensions

· Computer: Intel Core 2 Duo Processor with 200GB Hard drive and DVD+RW Burner plus 19” LCD Monitor

· Power: 110– 240 VAC /50-60Hz, 3 A

· Dimension: 16’x16’x18’ (Table top setup)

· Weight: 120 lbs total

· Warranty: One year labor and parts

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