世界首创光学准直器 , 光束小于50um , 最小为20um

X-射线光学聚焦,可加强光强度，比传统式准直加强30至100倍，准确度加强10倍，测量时间则大幅减少80%。

配备ZOOM功能，图像可放大30至300倍。

先进FP运算功能，适合最多6层金属共30个不同元素测量，更可用较少标准片。

CXR型可升级具备wafer handler专门用于晶圆制造测试。

具备全自动XYZ轴工作平台，精度可达 +/- 5um。

为微细面积、超薄镀层、快速测试必然的选择。

 

PCB、IC substrates、Lead frame、被动组件、电镀组件、半导体组件的多层金属成份、厚度测量，如：无铅锡膏(Sn - Cu，Sn – Cu – Ag)成份、超薄 immersion金属(Au / Ni / Cu) ... 等等。

光电通讯组件、 微波RF产品 、 光纤及optical filter上之各层金属膜厚, 如 : Au, Pt, Ti, Ni ...等等。

 

CXR series

 

Model VXR