美国Solar Metrology – X射线荧光光谱仪(XRF) 能为薄膜太阳能行业提供成分及厚度测量

适用于软性基底（如不锈钢及塑料）及硬性基底（如玻璃）, 亦可用于
可测量钼膜层的厚度, 所有铜铟镓硒太阳能电池中的成分 (包括在硒化前, 铜铟镓的成分测量)及硫化镉缓冲层 
备有多种型号可供选择: 独立式设备到可整合于生产在线的在线测量设备 
在线式设备可安装于真空设备上, 数据可实时用作调整生产的依据, 减少引起的损失 
设计完善, 部件都在真空舱外, 维修简单方便 
隔热保护罩可选, 令设备可于300°C环境下工作