美国泰克TeKtronixTLA7000系列逻辑分析仪

美国泰克TeKtronixTLA7000系列逻辑分析仪

模块化TLA7000系列逻辑分析仪可提供必要的速度和灵活性，帮助您捕获关于当前最快速的微处理器和存储器设计的逻辑细节信息。准确地发现复杂错误的根源，借助一目了然的大尺寸显示器和很高的数据吞吐量提供您需要的信息，并通过同一个探头提供模拟和数字信号的时间相关视图。

功能	优点
MagniVu™采集	借助于所有通道上的较高采样分辨率（最高20 ps）完全避免定时或状态采集模式下的事件遗漏。
iCapture™ 多路复用	通过一个逻辑分析仪探头同时采集数字和模拟信号，消除双重探测。
通过旗标来标记毛刺	避免了通过专用功能来手动搜索所有通道以显示毛刺出现的时间和通道的需要。
T_S/T_H 违例触发	利用能够自动获得断续设置和保留违例的实时违例触发功能避免耗时而复杂的电路输出监测任务。
iView™ 显示	通过集中显示时间相关的、集成的模拟与数字数据获得全面的系统可视性
iVerify™ 分析	通过多通道总线分析（使用示波器生成的眼图）迅速发现信号完整性问题。
自动测量	利用先进的测量轻松地总结您的设计效果，这些测量结果包括：频率、周期、脉冲宽度、占空比以及边沿计数。
拖放触发器	通过简单而直观的触发器设置快速隔离事件。触发器包括：通道边沿、通道值、总线值、多群组值、毛刺、设置和保持违例，或者“在任何情况下触发”（Trigger on Anything）。