硬设备

• 18 slots PXI 机箱
• 漏电流测试模块
• 电源量测单元
• 光学测试模块
• ESD 测试模块(选配)

    58173-M 是全新独特的量测LED全光通量之手动测试设备。在LED的裸晶与晶粒测试生产线中，常见使用部份光通量来取代全光通量之量测方式 (见图3) 。然而，传统的量测方式存在一些缺点，例如: 准确度较低、讯噪比较低、与测试时间较长等，以致于导入LED wafer/chip 生产线时会发生问题。

   58173-M 研发出一种高速精准的LED全光通量的量测方式 (见图 1)。 这种创新方式不仅比传统方式收集更多的LED部分光通量，也明显提升了量测精确度。

  在光学量测方面，主波长、峰波长、色温等均可透过  独特之光学设计与组件取得精确、稳定、快速之数据；在机构方面，58173-M 搭载一个6吋之芯片载盘与校正基座，提供使用者一个完整的校正与测试平台；在电性测试方面， 58173-M 提供一个完整之电源量测单元，无论顺向电压、漏电流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性，均可于一次满足使用者的测试需求。